02 / TIA LITERATURE

Analog Test Bus Structure for Wide-Bandwidth High-Frequency Measurements

TIAISCAS2025组员文献

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作者与单位: 见论文原文首页（下方已附前三页原图）

会议: IEEE ISCAS 2025
DOI: https://doi.org/10.1109/iscas56072.2025.11043282
原文: paper.pdf

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核心参考量

维度	信息
应用场景	模拟测试总线/高频测量
是否实测	Not TIA design
工艺节点	待核实
前端架构	用op-amp作transimpedance DUT/参考，不是TIA论文
关键性能条件	VNA式校准测试总线
可参考程度	不建议主讲

设计挑战

应用约束：模拟测试总线/高频测量。
核心电路矛盾：该文使用跨阻放大作为测试/标定结构的一部分，不提出面向传感或存储读出的TIA架构。
指标与实现约束：VNA式校准测试总线。这些数值必须同时结合输入电容、输出负载、供电与验证频率判断，不能只比较单个峰值指标。

架构创新点

1. 前端拓扑

用op-amp作transimpedance DUT/参考，不是TIA论文。该拓扑决定输入阻抗、反馈环路和主要噪声源，也是判断能否迁移到阵列读出的第一层依据。

2. 关键机制

提高高频模拟测试校准能力

3. 与传统方案的差异

该文使用跨阻放大作为测试/标定结构的一部分，不提出面向传感或存储读出的TIA架构。

性能与证据

项目	判断
工艺	待核实
验证方式	Not TIA design
关键性能	VNA式校准测试总线
证据等级	验证方式需继续核实
参考程度	不建议主讲

原文摘要证据：Analog test buses facilitate the testing of analog [3], an implementation of 1149.4 was proposed using analog components in integrated circuits through dedicated test ports buffers that slightly improved the measurement frequency to and switches. IEEE 1149.4 is an analog test bus standard that 30 MHz. All current 1149.4 circuits aimed at RF applications can be calibrated with simple gain correction but cannot calibrate for other sources of error present at higher frequencies, leading are essentially BIST approaches using application-specific to inaccurate measurements. This paper presents a novel analog circuits to perform the RF functions, and use 1149.4 to relay test bus structure with greater calibration capabilities inspired information at DC or low frequency [6]–[9]. by the vector network analyzer (VNA) calibration approach The established way to measure high-frequency analog that uses multiple known calibration references. Thes...